存储芯片测试设备_NOR_NAND测试器_闪存测试仪_CP测试

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IC Programming equipment · IC Programming equipment

测试设备

ICT-192 NOR/NAND测试器

描述

ICT-192是专为NOR/NAND Flash存储芯片设计的高性能、高精度测试解决方案。它集成了全面的Logic、PMU、VPP、VCC及HT测试功能，提供从研发验证到量产测试的全流程支持，以卓越的测试精度与灵活性，保障存储芯片的品质与可靠性。

关键亮点

全面测试能力：一台设备集成逻辑测试、参数测量单元(PMU)、编程电压(VPP)、核心电压(VCC)及高低温(HT)测试，满足存储芯片全参数测试需求。

超高测试精度：电压分辨率达0.3mV级，电流分辨率达nA级，确保微小电气缺陷的精准捕捉与参数微调(Trim)。

强大通道配置：最高支持192个数字通道及多组独立精密模拟通道，满足多芯片并行测试与复杂接口需求，提升测试效率。

深度功能与耐久测试：支持用户模式与测试模式下的功能验证，并提供循环测试(Cycle Test)功能，评估芯片耐久性与长期可靠性。

开放的编程环境：支持ITE编程环境，允许客户自主开发或导入测试程序，并提供客制化数据报表，灵活适配不同生产与数据分析流程。

IC测试集成开发与数据分析平台 (基于ITE环境)

基于ITE的开放式编程环境：提供基于行业标准 ITE (Integrated Test Environment) 的开放式开发平台，允许用户根据芯片特性，灵活开发、调试并导入自定义的测试算法与复杂流程，实现深度、精准的测试覆盖。
高效的测试程序开发与调试工具：集成强大的代码编辑器、编译器及实时调试器。提供波形显示、内存查看、变量监控等高级功能，帮助测试工程师快速开发测试程序并定位问题，显著缩短测试方案开发周期。
智能化的量产测试管理：软件提供直观的图形化量产界面，支持多站点并行测试管理、批次控制、实时监控良率与测试进度。可灵活设定分Bin规则，并一键生成客制化的测试报表与统计数据。
全面的数据分析与SPC监控：内置强大的数据分析引擎，可对海量测试数据进行统计分析，自动生成直方图、趋势图、Shmoo图等。集成实时SPC（统计过程控制）功能，监控关键参数波动，实现预防性质量管理。
灵活的自动化与系统集成：支持通过标准通讯接口（如GPIB、Ethernet）与探针台、分选机、温控设备等外围硬件联动，构建自动化测试站。同时，可轻松对接工厂MES系统，实现测试数据上传与生产指令下发。

产品规格

核心硬件测试规格
测试模块	通道数	电压范围	电压分辨率(Force/Measure)	电流范围	电流分辨率(Force/Measure)	其他
Logic测试	128 (Max 192)	0 ~ 4V	0.305 mV	-	-	频率: 133MHz
PMU测试	16	-1.5V ~ +4V	0.343mV / 0.381mV	±5uA ~ ±10mA	0.172nA~343nA / 0.170nA~339nA	模式: FV/MV/FI/MI/FN
VPP测试	16	-1.5V ~ +12V	0.343mV / 0.381mV	15uA ~ +80mA	0.172nA~2.77uA / 0.170nA~2.73uA	模式: FV/MV/FI/MI/FN
VCC测试	16	-1.5V ~ +5V	0.343mV / 0.381mV	15uA ~ +298mA	0.172nA~10.2uA / 0.170nA~10.1uA	模式: FV/MV/FI/MI/FN

HT测试与高级功能
功能类别	描述
DC测试	支持Open/Short/Leakage/Standby Current等直流参数测试。
功能测试	支持User Mode（用户模式）与Test Mode（通过HV pin进入）下的芯片功能验证。
微调(Trim)	支持对电流(Current)、电压(Voltage)参数进行微调，确保测试精度。
数据记录	可记录编程/擦除时间(pgm/erase polling time)、电流、电压等过程数据(Log data)。
循环测试	支持按次数或时间设定的耐久性循环测试(Cycle test)。
报表与编程	提供客制化格式报表，并支持ITE编程环境，供客户自行开发测试程序。