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芯片测试座（Socket）
芯片测试座（Socket）
芯片测试座（Socket）

烧录与测试设备

芯片测试座（Socket）
描述
我们提供全系列的芯片测试座（Socket），专为满足半导体测试、烧录及老化等各种严苛应用场景而设计。从标准测试到高温环境，从自动化产线到研发验证，我们均能提供高度定制化的可靠连接解决方案。
核心服务内容
探针定制：提供各种等级与规格的POGO PIN（弹簧探针）及PCR搭配方案。
款式定制：可选择OPENTOP SOCKET、下压式（OR压测式）SOCKET或高温专用SOCKET等不同结构。
次数定制：提供高、中、低不同使用寿命的选项，以适应研发、中试或量产等不同阶段的需求。
精细设计：采用HARD STOP等精密结构设计，确保芯片受力均匀，避免损伤。
加急服务：提供 SUPER HARD RUN 加急通道，应对紧急项目需求。
售后服务：提供7×24小时免费设计咨询，并对交期与品质作出郑重承诺。
产品规格

产品类型

主要特点

适用场景

老化烧录座

定制化服务，OPENTOP结构，耐久性强。

适合长时间刻录（烧录），兼容刻录自动化设备。

CSP烧录座

定制化服务，OPENTOP结构，精密设计。

专为体积小、结构较脆弱的CSP封装芯片而设计。

芯片测试座

定制化服务，响应快速。

适合短时间、高频率的测试，兼容测试自动化设备。

高温测试座

定制化服务，OPENTOP结构，耐高温材料。

适合长时间的高温环境测试与老化。

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